Synchrotron X-Ray Nano-Analysis for Material Science: from 2D to 4D
Villanova, J. ; Bonino, V.; Bouvard, D.; Dolado, J.; Gravier, P.; Guilloud, C.; Han, M.; Holliger, B.; Harrup, A.; Léon, A. 1; Lhuissier, P.; Pinzon, G.; Salvo, L.; Schlabach, S.
2; Segura-Ruiz, J.; Stamati, O.; Tucoulou, R.; Vanpeene, V.; Venkatesh, A.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2; Segura-Ruiz, J.; Stamati, O.; Tucoulou, R.; Vanpeene, V.; Venkatesh, A.1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 24.07.2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1431-9276, 1079-8501, 1435-8115 KITopen-ID: 1000179299 |
| Erschienen in | Microscopy and Microanalysis |
| Verlag | Cambridge University Press (CUP) |
| Band | 30 |
| Heft | Supplement_1 |
| Seiten | 255 – 257 |
| Schlagwörter | 2021-025-030111 FIB, Proceedings ohne Impact |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex Dimensions |
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seit 20.02.2025
seit 20.02.2025