Compressed Test Pattern Generation for Deep Neural Networks
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) Institut für Telematik (TM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 01.2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0018-9340, 1557-9956, 2326-3814 KITopen-ID: 1000179381 |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Computers |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 74 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 307–315 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science OpenAlex Dimensions |