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Fidelity Benchmarking of Industrial Silicon/Silicon-Germanium Qubits

Koch, Thomas ORCID iD icon 1
1 Physikalisches Institut (PHI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 12.03.2025
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000179807
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang v, 138 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Physikalisches Institut (PHI)
Prüfungsdatum 13.12.2024
Referent/Betreuer Wernsdorfer, Wolfgang
De Greve, Kristiaan

Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000179807
Veröffentlicht am 12.03.2025
Seitenaufrufe: 20
seit 12.03.2025
Downloads: 4
seit 14.03.2025
Cover der Publikation
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