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EMDRIVE Architecture: Embedded Distributed Computing and Diagnostics from Sensor to Edge

Schmidt, Patrick ORCID iD icon 1; Topko, Iuliia ORCID iD icon 1; Stammler, Matthias ORCID iD icon 1; Harbaum, Tanja ORCID iD icon 1; Becker, Juergen; Berner, Rico; Ahmed, Omar; Jagielski, Jakub; Seidler, Thomas; Abel, Markus; Kreutzer, Marius ORCID iD icon 1; Kirschner, Maximilian 1; Betancourt, Victor Pazmino; Sehm, Robin; Groth, Lukas; Neskovic, Andrija; Meyer, Rolf; Mulhem, Saleh; Berekovic, Mladen; ... mehr


Originalveröffentlichung
DOI: 10.23919/DATE58400.2024.10546796
Dimensions
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 25.03.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-8-3503-4860-6
KITopen-ID: 1000179876
Erschienen in 27th Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 2024)
Veranstaltung 27th Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE 2024), Valencia, Spanien, 25.03.2024 – 27.03.2024
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 6 S.
Nachgewiesen in Dimensions
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