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Modular Validation within Digital Twins: A Case Study in Reliability Analysis of Manufacturing Systems

Zare, Ashkan; Lazarova-Molnar, Sanja ORCID iD icon 1
1 Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 15.12.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-83-315-3420-2
KITopen-ID: 1000179903
Erschienen in 2024 Winter Simulation Conference (WSC)
Veranstaltung Winter Simulation Conference (WSC 2024), Orlando, FL, USA, 15.12.2024 – 18.12.2024
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 2903 – 2914
Nachgewiesen in Scopus
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Seitenaufrufe: 3
seit 14.03.2025
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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