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Modular Validation within Digital Twins: A Case Study in Reliability Analysis of Manufacturing Systems

Zare, Ashkan; Lazarova-Molnar, Sanja ORCID iD icon 1
1 Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/WSC63780.2024.10838952
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Zitationen: 1
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 15.12.2024
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-83-315-3420-2
KITopen-ID: 1000179903
Erschienen in 2024 Winter Simulation Conference (WSC)
Veranstaltung Winter Simulation Conference (WSC 2024), Orlando, FL, USA, 15.12.2024 – 18.12.2024
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 2903 – 2914
Nachgewiesen in OpenAlex
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