Segregation to creep-induced planar faults (PFs) in Ni-base single crystal (SX) superalloys
Long, Zhongmin 1; Bürger, David; Dolle, Christian; Grünewald, Lukas
2; Vamsi, K. V.; Eggeler, Yolita M.
1,2
1 Graduiertenkolleg 2561: Materials Compounds from Composite Materials (GRK 2561), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2; Vamsi, K. V.; Eggeler, Yolita M.
1,21 Graduiertenkolleg 2561: Materials Compounds from Composite Materials (GRK 2561), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Graduiertenkolleg 2561: Materials Compounds from Composite Materials (GRK 2561) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000180116 |
| Veranstaltung | 17th European Microscopy Congress (EMC 2024), Kopenhagen, Dänemark, 25.08.2024 – 30.08.2024 |