Online 6DOF metrology with MAPS utilizing a unique aperture pattern mask
| Zugehörige Institution(en) am KIT | KIT-Bibliothek (BIB) Lichttechnisches Institut (LTI) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 19.03.2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5106-8509-3 KITopen-ID: 1000180903 |
| Erschienen in | Optical Sensing and Precision Metrology, OPTO, 2025, San Francisco, 25th-31st January 2025 |
| Veranstaltung | Optical Sensing and Precision Metrology (OPTO 2025), San Francisco, CA, USA, 25.01.2025 – 31.01.2025 |
| Verlag | SPIE |
| Seiten | 7 |
| Serie | Proceedings of SPIE ; 13380 |
| Externe Relationen | Abstract/Volltext |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex Dimensions |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |