SEM-FIB-Tomo mapper
Götzelmann, Germaine
1; Oumbe Tekam, Gabin Thibaut
1; Christoph, Pauly; Aversa, Rossella
1; Mücklich, Frank; Engstler, Michael; Fell, Jonas; Schlabach, Sabine
2,3,4; Szabo, Dorothee-Vinga
2,3,4
1 Scientific Computing Center (SCC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
4 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Oumbe Tekam, Gabin Thibaut
1; Christoph, Pauly; Aversa, Rossella
1; Mücklich, Frank; Engstler, Michael; Fell, Jonas; Schlabach, Sabine
2,3,4; Szabo, Dorothee-Vinga
2,3,41 Scientific Computing Center (SCC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
4 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) Scientific Computing Center (SCC) Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK) |
| Publikationstyp | Forschungsdaten |
| Publikationsdatum | 02.05.2025 |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000181662 |
| HGF-Programm | 46.21.01 (POF IV, LK 01) Domain-Specific Simulation & SDLs and Research Groups |
| Lizenz | Apache License 2.0 |
| Projektinformation | NEP (EU, H2020, 101007417) NFDI-MatWerk, 460247524 (DFG, NFDI 38/1) |
| Schlagwörter | SEM, Tomography, FIB, 2022-029-031472, TIFF, metadata, extraction, schema |
| Art der Forschungsdaten | Software |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |
| Relationen in KITopen |
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