Coverage Metrics for T-Wise Feature Interactions
Böhm, Sabrina; Jannik Schmidt, Tim; Krieter, Sebastian; Pett, Tobias
1; Thüm, Thomas; Lochau, Malte
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Thüm, Thomas; Lochau, Malte1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Informationssicherheit und Verlässlichkeit (KASTEL) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 31.03.2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-83-315-0814-2 ISSN: 2159-4848 KITopen-ID: 1000182445 |
| Erschienen in | 2025 IEEE Conference on Software Testing, Verification and Validation (ICST), Napoli, 31 March- 4th April 2025 |
| Veranstaltung | IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation (2025), Napoli, Italien, 04.03.2025 – 04.04.2025 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 198–209 |
| Projektinformation | SFB 1608/1, 501798263 (DFG, DFG KOORD, SFB 1608) |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex Dimensions |