KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Application Oriented Approach for the Integration of Load Impacts in Reliability Analysis and Lifetime Prediction

Fleischer, J.; Niggeschmidt, S.; Werner, P.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000183113
Erschienen in International Applied Reliability Symposium 2008, Frankfurt, Germany, March 26th-28th
Veranstaltung International Applied Reliability Symposium (2008), Frankfurt am Main, Deutschland, 26.03.2008 – 28.03.2008
KIT – Die Universität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page