REAP-NVM: Resilient Endurance-Aware NVM-Based PUF Against Learning-Based Attacks
Nassar, Hassan
1; Wei, Ming-Liang; Yang, Chia-Lin; Henkel, Jörg 1; Chen, Kuan-Hsun
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Wei, Ming-Liang; Yang, Chia-Lin; Henkel, Jörg 1; Chen, Kuan-Hsun1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 21.05.2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-9826741-0-0 ISSN: 1530-1591 KITopen-ID: 1000183738 |
| Erschienen in | 2025 Design, Automation & Test in Europe Conference (DATE) |
| Veranstaltung | Design, Automation & Test in Europe Conference (DATE 2025), Lyon, Frankreich, 31.03.2025 – 02.04.2025 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–2 |
| Serie | Proceedings - Design, Automation, and Test in Europe Conference and Exhibition |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Dimensions Scopus |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |