Feature Deviation Embedding Improves Graph Structure Learning for Spatial Interpolation
Li, Chaofan
1; Riedel, Till
1; Beigl, Michael
1
1 Institut für Telematik (TM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Riedel, Till
1; Beigl, Michael
11 Institut für Telematik (TM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Telematik (TM) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000184177 |
| Erschienen in | Proceedings of the 2025 SIAM International Conference on Data Mining (SDM) |
| Veranstaltung | SIAM International Conference on Data Mining (2025), Alexandria, VA, USA, 01.05.2025 – 03.05.2025 |
| Verlag | Society for Industrial and Applied Mathematics Publications (SIAM) |
| Seiten | 356 – 365 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Scopus |