Fault Modeling and Testing of ReRAM-based CAM Array
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 10.06.2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-83-315-2144-8 ISSN: 2375-1053 KITopen-ID: 1000184350 |
| Erschienen in | 2025 IEEE 43rd VLSI Test Symposium (VTS) |
| Veranstaltung | 43rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2025), Tempe, AZ, USA, 28.04.2025 – 30.04.2025 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–7 |
| Serie | Proceedings of the ... IEEE VLSI Test Symposium |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Scopus Dimensions |