Analysis and Mitigation of Radiation Effects in SRAM-based Register Files
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-83-315-9450-3 ISSN: 1530-1877 KITopen-ID: 1000184574 |
| Erschienen in | Proceedings of the European Test Workshop |
| Veranstaltung | 30th IEEE European Test Symposium (ETS 2025), Tallin, Estland, 26.05.2025 – 30.05.2025 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Serie | Proceedings - European Test Workshop |
| Nachgewiesen in | Scopus |