European Test Symposium Teams: an Anniversary Snapshot
Jenihhin, M.; Raik, J.; Jutman, A.; Cherezova, N.; Ubar, R.; Miclea, L.; Enyedi, S.; Stefan, I.; Stan, O.; Corches, C.; Peng, Z.; Eles, P.; Drechsler, R.; Eggersglus, S.; Fey, G.; Glowatz, A.; Tille, D.; Gielen, G.; Coyette, A.; ... mehrDobbelaere, W.; Vanhooren, R.; Chuang, P.-Y.; Marinissen, E. J.; Di Natale, G.; Barragan, M.; Maistri, P.; Mir, S.; Vatajelu, E.-I.; Bernardi, P.; Di Carlo, S.; Prinetto, P.; Sonza Reorda, M.; Violante, M.; Stratigopoulos, H.-G.; Michael, M. K.; Neophytou, S.; Hadjitheophanous, S.; Christou, K.; Skitsas, M.; Bosio, A.; Deveautour, B.; Girard, P.; Traiola, M.; Virazel, A.; Fernandes Dos Santos, F.; Kritikakou, A.; Casagranda, G.; Vallero, M.; Vella, F.; Rech, P.; Bolzani Poehls, L. M.; Krstic, M.; Andjelkovic, M.; Vargas, F.; Tshagharyan, G.; Harutyunyan, G.; Vardanian, V.; Shoukourian, S.; Zorian, Y.; Dworak, J.; Nepal, K.; Manikas, T.; Taouil, M.; Fieback, M.; Gebregiorgis, A.; Bishnoi, R.; Hamdioui, S.; Chatterjee, A.; Saha, A.; Komarraju, S.; Ma, K.; Amarnath, C.; Tahoori, M. 1; Mayahinia, M. 1; Rajabalipanah, M.; Basharkhah, K.; Nosrati, N.; Jahanpeima, Z.; Navabi, Z.; Wunderlich, H.-J.; Hellebrand, S.
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT |
Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp |
Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr |
2025 |
| Sprache |
Englisch |
| Identifikator |
ISBN: 979-83-315-9450-3
ISSN: 1530-1877
KITopen-ID: 1000184603 |
| Erschienen in |
Proceedings of the European Test Workshop |
| Veranstaltung |
30th IEEE European Test Symposium (ETS 2025), Tallin, Estland, 26.05.2025 – 30.05.2025 |
| Verlag |
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Serie |
Proceedings - European Test Workshop |
| Nachgewiesen in |
Scopus
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