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FLARE: Fault Attack Leveraging Address Reconfiguration Exploits in Multi-Tenant FPGAs

Chaudhuri, Jayeeta ; Nassar, Hassan ORCID iD icon 1; Gnad, Dennis R. E. 1; Henkel, Jörg 1; Tahoori, Mehdi B. 1; Chakrabarty, Krishnendu
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ETS63895.2025.11049651
Scopus
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2025
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-83-315-9450-3
ISSN: 1530-1877
KITopen-ID: 1000184605
Erschienen in Proceedings of the European Test Workshop
Veranstaltung 30th IEEE European Test Symposium (ETS 2025), Tallin, Estland, 26.05.2025 – 30.05.2025
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Serie Proceedings - European Test Workshop
Nachgewiesen in Scopus
Relationen in KITopen
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