Investigation of the dynamic response of a fluid dielectric to electric fields for controlled micro- and nanostructuring processes
Burkert, Selina ; Dohmen, Mike
1; Heinrich, Andreas
1 Lichttechnisches Institut (LTI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Heinrich, Andreas1 Lichttechnisches Institut (LTI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Lichttechnisches Institut (LTI) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 16.09.2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5106-9115-5 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000185658 |
| Erschienen in | Applied Optical Metrology VI. Ed.: C.C. Wilcox |
| Veranstaltung | Applied Optical Metrology VI (2025), San Diego, CA, USA, 03.08.2025 – 08.08.2025 |
| Verlag | SPIE |
| Seiten | 34 |
| Serie | Proceedings of SPIE ; 13603 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Dimensions |