Electronics design and testing of the CMS Fast Beam Condition Monitor for HL-LHC
Shibin, K.; Auzinger, G.; Bakhshiansohi, H.; Dabrowski, A.; Dierlamm, A.
1; Dragicevic, M.; Gholami, A.; Gomez, G.; Guthoff, M.; Haranko, M.; Homna, A.; Jenihhin, M.; Kaplon, J.; Karacheban, O.; Korcsmáros, B.; Lokhovitskiy, A.; Loos, R.; Mallows, S.; Michel, J.;
1; Dragicevic, M.; Gholami, A.; Gomez, G.; Guthoff, M.; Haranko, M.; Homna, A.; Jenihhin, M.; Kaplon, J.; Karacheban, O.; Korcsmáros, B.; Lokhovitskiy, A.; Loos, R.; Mallows, S.; Michel, J.; | Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Forschungsbericht/Preprint |
| Publikationsjahr | 2024 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000186295 |
| Vorab online veröffentlicht am | 18.10.2024 |
| Nachgewiesen in | arXiv OpenAlex Dimensions |
| Relationen in KITopen |