Investigation of sample preparation and imaging methods for structural characterization of samples from micro- and nanotechnology
Huang, Liyu
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1 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
11 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsdatum | 10.11.2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000186595 |
| HGF-Programm | 43.31.02 (POF IV, LK 01) Devices and Applications |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Umfang | xiii, 170 S. |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Maschinenbau (MACH) |
| Institut | Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) |
| Prüfungsdatum | 05.11.2025 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |
| Referent/Betreuer | Gengenbach, Ulrich Schröder, Rasmus R. Hagenmeyer, Veit |