Fault Diagnosis in ReCAM Arrays
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 07.07.2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3315-3335-9 ISSN: 1942-9398 KITopen-ID: 1000186771 |
| Erschienen in | 2025 IEEE 31st International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) |
| Veranstaltung | 31st IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2025), Ischia, Italien, 07.07.2025 – 09.07.2025 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–7 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Dimensions Scopus |