A Systematic Approach for Continuous Monitoring and Validation of Product Properties in the Product Engineering Process
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 13.08.2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3315-8535-8 ISSN: 2334-315X KITopen-ID: 1000186785 |
| Erschienen in | 2025 IEEE International Conference on Engineering, Technology, and Innovation (ICE/ITMC) |
| Veranstaltung | 31st IEEE International Conference on Engineering, Technology and Innovation (ICE/ITMC 2025), Valencia, Spanien, 16.06.2025 – 19.06.2025 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–9 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Dimensions Scopus |