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Offset Charge Dependence of Measurement-Induced Transitions in Transmons

Féchant, Mathieu 1; Dumas, Marie Frédérique ; Bénâtre, Denis 1; Gosling, Nicolas 1; Lenhard, Philipp 1; Spiecker, Martin ORCID iD icon 2; Geisert, Simon 3; Ihssen, Sören ORCID iD icon 3; Wernsdorfer, Wolfgang 3; D’Anjou, Benjamin; Blais, Alexandre; Pop, Ioan M. 3
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für QuantenMaterialien und Technologien (IQMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Physikalisches Institut (PHI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000187233
Veröffentlicht am 20.11.2025
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/yljv-b4kj
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Zitationen: 1
Web of Science
Zitationen: 1
Dimensions
Zitationen: 1
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für QuantenMaterialien und Technologien (IQMT)
Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 10.2025
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0031-9007, 1079-7114
KITopen-ID: 1000187233
HGF-Programm 47.12.01 (POF IV, LK 01) Advanced Solid-State Qubits and Qubit Systems
Erschienen in Physical Review Letters
Verlag American Physical Society (APS)
Band 135
Heft 18
Seiten Art.-Nr.: 180603
Vorab online veröffentlicht am 29.10.2025
Nachgewiesen in OpenAlex
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