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Deep Learning Approaches for the Detection of Ramping Artifacts in Schedule Deviation Data in Belgium

von Hülsen, Henrike 1; Oberhofer, Ulrich 1; Lauwers, Oliver; Verbruggen, Gust; Pütz, Sebastian 1; Hagenmeyer, Veit ORCID iD icon 1; Schäfer, Benjamin ORCID iD icon 1
1 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/PowerTech59965.2025.11180720
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 29.06.2025
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-83-315-4397-6
KITopen-ID: 1000187552
HGF-Programm 37.12.02 (POF IV, LK 01) Design,Operation & Digitalization of the Future Energy Grids
Weitere HGF-Programme 46.21.04 (POF IV, LK 01) HAICU
Erschienen in 2025 IEEE Kiel PowerTech, 29 June 2025 - 03 July 2025
Veranstaltung IEEE PowerTech (2025), Kiel, Deutschland, 29.06.2025 – 03.07.2025
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1–8
Nachgewiesen in OpenAlex
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