Beyond the sparsity paradigm: efficient binary frames for event-based vision
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 01.08.2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5106-9053-0 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000188440 |
| Erschienen in | Automated Visual Inspection and Machine Vision VI. Ed.: M. Heizmann, T. Längle |
| Veranstaltung | SPIE Optical Metrology (2025), München, Deutschland, 23.06.2025 – 27.06.2025 |
| Verlag | SPIE |
| Seiten | Art.-Nr.: 1357208 |
| Serie | Proceedings ; 13572 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Dimensions Scopus |