Rapid deep-learning-based optical measurement of printed linear structures

¹; MD Ashif, Nowab Reza; Reichert, Klaus-Martin ¹; El Hariry, Aziza; Gengenbach, Ulrich ¹; Sieber, Ingo

¹
¹ Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Verlagsausgabe

DOI: 10.5445/IR/1000189245

Veröffentlicht am 23.12.2025

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1080/15599612.2025.2598112

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum	31.12.2026
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1559-9612, 1559-9620 KITopen-ID: 1000189245
HGF-Programm	43.31.02 (POF IV, LK 01) Devices and Applications
Erschienen in	International Journal of Optomechatronics
Verlag	Taylor & Francis Open Access
Band	20
Heft	1
Vorab online veröffentlicht am	17.12.2025
Nachgewiesen in	OpenAlex