| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2168-6750, 2376-4562 KITopen-ID: 1000189432 |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–15 |
| Vorab online veröffentlicht am | 24.12.2025 |
| Schlagwörter | Self-testing, dual-head, concurrent testing, testing neural network, uncertainty estimation |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Dimensions Scopus |