High-Resolution Spatiotemporal Monitoring of Secondary Microseisms via Multi-Array Analysis
Gao, Yajian
1; Rietbrock, Andreas
1; Tilmann, Frederik; Dushi, Edmond
1 Geophysikalisches Institut (GPI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Rietbrock, Andreas
1; Tilmann, Frederik; Dushi, Edmond1 Geophysikalisches Institut (GPI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Geophysikalisches Institut (GPI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0956-540X, 1365-246X KITopen-ID: 1000189509 |
| Erschienen in | Geophysical Journal International |
| Verlag | Oxford University Press (OUP) |
| Seiten | ggag006 |
| Vorab online veröffentlicht am | 10.01.2026 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |