| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 01.02.2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1600-5767 KITopen-ID: 1000189673 |
| HGF-Programm | 56.12.11 (POF IV, LK 01) Materials - Quantum, Complex and Functional |
| Erschienen in | Journal of Applied Crystallography |
| Verlag | International Union of Crystallography |
| Band | 59 |
| Heft | Part 1 |
| Seiten | 93-107 |
| Schlagwörter | grazing-incidence small-angle X-ray scattering; GISAXS; substrate curvature; thin-film growth; stress; real-time technique |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions OpenAlex |