Functional Test Generation for In-Field Testing of Deep Learning Models with Test Storage Constraints
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 03.11.2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3315-7041-5 KITopen-ID: 1000189955 |
| Erschienen in | 2025 IEEE International Test Conference (ITC), San Diego, CA, USA, 20-26 September 2025 |
| Veranstaltung | IEEE International Test Conference (ITC 2025), San Diego, CA, USA, 20.09.2025 – 26.09.2025 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 223–232 |
| Nachgewiesen in | Scopus |