Quantifying extended RE124 stacking faults in RE123 thin films using X-ray diffraction
Walter, Kai
; Rikel, Mark; Erbe, Manuela; Hänisch, Jens
; Holzapfel, Bernhard
; Rikel, Mark; Erbe, Manuela; Hänisch, Jens
; Holzapfel, Bernhard
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Physik (ITEP) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsdatum | 24.09.2025 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000190375 |
| HGF-Programm | 38.05.03 (POF IV, LK 01) High Temperature Superconductivity |
| Veranstaltung | 17th European Conference on Applied Superconductivity (EUCAS 2025), Porto, Portugal, 21.09.2025 – 25.09.2025 |