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Impact of Localization Errors on Label Quality for Online HD Map Construction

Blumberg, Alexander 1; Merkert, Jonas ORCID iD icon 1; Fehler, Richard; Immel, Fabian; Bieder, Frank; Pauls, Jan-Hendrik ORCID iD icon 1; Stiller, Christoph 1
1 Institut für Mess- und Regelungstechnik (MRT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 22.06.2025
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-8-3315-3803-3
KITopen-ID: 1000190486
Erschienen in 2025 IEEE Intelligent Vehicles Symposium (IV), Cluj-Napoca, Romania, 22-25 June 2025
Veranstaltung 36th IEEE Intelligent Vehicles Symposium (IV 2025), Klausenburg, Rumänien, 22.06.2025 – 25.06.2025
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1833–1840
Nachgewiesen in OpenAlex
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KIT – Die Universität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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