KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Invited Paper: Side Channel Vulnerability Analysis of Flexible Neuromorphic Circuits

Pal, Priyanjana ORCID iD icon 1; Sapui, Brojogopal 1; Tahoori, Mehdi Baradaran 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ICCAD66269.2025.11240706
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 26.10.2025
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 979-8-3315-1560-7
ISSN: 1092-3152
KITopen-ID: 1000190802
Erschienen in 2025 IEEE/ACM International Conference On Computer Aided Design (ICCAD), Munich, 26th-30th October 2025
Veranstaltung 44th IEEE/ACM International Conference On Computer Aided Design (ICCAD 2025), München, Deutschland, 26.10.2025 – 30.10.2025
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1–7
Serie Conferences
Nachgewiesen in Scopus
OpenAlex
Dimensions
KIT – Die Universität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page