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Electrode Realisation and SiPM Characterisation for Dark Matter Search with XENONnT and XLZD

Wu, Vera Hiu-Sze ORCID iD icon 1
1 Institut für Astroteilchenphysik (IAP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Abstract:

Trotz überzeugender Hinweise aus kosmologischen und astrophysikalischen Beobachtungen auf die Existenz von Dunkler Materie ist ihre fundamentale Natur bis heute unbekannt. Xenonbasierte Zweiphasen-Driftkammern (engl. TPCs) werden in Experimenten zur direkten suche nach einem der am häufigsten untersuchten Kandidaten für Dunkle Materie, den schwach wechselwirkenden massiven Teilchen (engl. WIMPs), eingesetzt. Aufgrund der extrem niedrigen erwarteten Wechselwirkungsraten von WIMPs mit gewöhnlicher Materie erfordern solche Experimente eine außergewöhnlich hohe Sensitivität sowie ein extrem niedriges Untergrundniveau. ... mehr

Abstract (englisch):

Despite compelling evidence from cosmological and astrophysical observations for the existence of dark matter, its fundamental nature remains unknown. Dual-phase xenon time projection chambers (TPCs) are employed in direct detection experiments
to search for one of the most popular dark matter candidates — weakly interactive massive particles (WIMPs). Owing to the extremely low interaction rates expected for WIMPs with ordinary matter, such experiments require exceptional sensitivity and
ultra-low background. Examples include the currently operating XENONnT experiment and the proposed next-generation experiment, the XLZD project.
... mehr


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000192347
Veröffentlicht am 04.05.2026
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Astroteilchenphysik (IAP)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 04.05.2026
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000192347
HGF-Programm 51.13.01 (POF IV, LK 01) Neutrinophysik und Dunkle Materie
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang xix, 212 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Institut für Astroteilchenphysik (IAP)
Prüfungsdatum 13.02.2026
Schlagwörter Dark Matter, Direct Dark Matter Search, Electrode, High Voltage
Referent/Betreuer Valerius, Kathrin
Schumann, Marc
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