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Data-driven warranty modeling for multi-state deteriorating products with stochastic repair times

Niloofar, Parisa ; Vahdani, Hashem; Ayvaz, Serkan; Lazarova-Molnar, Sanja ORCID iD icon 1
1 Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ress.2026.112679
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 11.2026
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0951-8320, 1879-0836
KITopen-ID: 1000192527
Erschienen in Reliability Engineering and System Safety
Verlag Elsevier
Band 275
Seiten 112679
Vorab online veröffentlicht am 01.04.2026
Externe Relationen Siehe auch
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