| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1530-4388, 1558-2574 KITopen-ID: 1000192950 |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Device and Materials Reliability |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1 |
| Vorab online veröffentlicht am | 20.04.2026 |
| Externe Relationen | Siehe auch |
| Schlagwörter | hyperdimensional computing, out-of-distribution detection, functional safety, concurrent detection, memory fauly, hardware stuck at fault |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Scopus |