Data‐Driven High‐Throughput Volume Fraction Estimation From X‐Ray Diffraction Patterns
Höfer, Hawo H.
1; Orth, André 1; Wang, Robert 2; Breitung, Ben
2; Schweidler, Simon
2; Aghassi-Hagmann, Jasmin
2; Reischl, Markus
1
1 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Orth, André 1; Wang, Robert 2; Breitung, Ben
2; Schweidler, Simon
2; Aghassi-Hagmann, Jasmin
2; Reischl, Markus
11 Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2943-9981 KITopen-ID: 1000193018 |
| HGF-Programm | 43.31.02 (POF IV, LK 01) Devices and Applications |
| Erschienen in | Advanced Intelligent Discovery |
| Verlag | Wiley-VCH Verlag |
| Vorab online veröffentlicht am | 06.05.2026 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |