Interface Excitation Effect in Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien (IAM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 02.2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0142-2421, 1096-9918 KITopen-ID: 1000193239 |
| Erschienen in | Surface and Interface Analysis |
| Verlag | John Wiley and Sons |
| Band | 58 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 118–124 |
| Vorab online veröffentlicht am | 21.12.2025 |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex |