Dependencies Within Model-Based Safety Analysis
Lüntzel, Vitus A.
1; Beck, Maximilian
1; Pascual, Romain; Sax, Eric 1
1 Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Beck, Maximilian
1; Pascual, Romain; Sax, Eric 11 Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 26.01.2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3315-7363-8 KITopen-ID: 1000193594 |
| Erschienen in | 2026 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), Miramar Beach, FL, USA, 26-29 January 2026 |
| Veranstaltung | Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS 2026), Miramar Beach, FL, USA, 26.01.2026 – 29.01.2026 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |