Development of an Automated Test and Characterization Framework for Multi-Channel DAC Boards in Qubit Control Systems
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsdatum | 02.05.2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000193914 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Art der Arbeit | Abschlussarbeit - Bachelor |
| Prüfungsdaten | 02.05.2026 |
| Referent/Betreuer | Kempf, S. |