Factory Acceptance Test for Serenity-S1, a CMS Phase-2 back-end card
Krause, H.
1; Ardila-Perez, L. E.
1; Balzer, M. 1; Fuchs, M. 1; Howard, A.; Iles, G.; Mehner, T.
1; Parker, D.; Rose, A.; Simon, F.
1; Williams, T.
1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Ardila-Perez, L. E.
1; Balzer, M. 1; Fuchs, M. 1; Howard, A.; Iles, G.; Mehner, T.
1; Parker, D.; Rose, A.; Simon, F.
1; Williams, T.1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 01.03.2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1748-0221 KITopen-ID: 1000194501 |
| HGF-Programm | 54.12.02 (POF IV, LK 01) System Technologies |
| Erschienen in | Journal of Instrumentation |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 21 |
| Heft | 03 |
| Seiten | C03035 |
| Bemerkung zur Veröffentlichung | Topical Workshop on Electronics for Particle Physics Rethymno, Crete, Greece 6–10 October 2025. |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex |