| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 26.01.2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3315-7362-1 ISSN: 0149-144X KITopen-ID: 1000194765 |
| Erschienen in | 2026 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS) |
| Veranstaltung | Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS 2026), Miramar Beach, FL, USA, 26.01.2026 – 29.01.2026 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–7 |
| Externe Relationen | Siehe auch |
| Schlagwörter | Reliability, XGBoost, CNN, MLP, Data Augmentation |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Scopus |