Microscopic origin of droplet line tension
Aurbach, Franziska 1,2; Wang, Fei
1,2; Nestler, Britta 1,2
1 Institut für Angewandte Materialien – Mikrostruktur-Modellierung und Simulation (IAM-MMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1,2; Nestler, Britta 1,21 Institut für Angewandte Materialien – Mikrostruktur-Modellierung und Simulation (IAM-MMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Institut für Angewandte Materialien – Mikrostruktur-Modellierung und Simulation (IAM-MMS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 28.06.2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0021-9606, 1089-7690 KITopen-ID: 1000194786 |
| Erschienen in | The Journal of Chemical Physics |
| Verlag | American Institute of Physics (AIP) |
| Band | 164 |
| Heft | 24 |
| Seiten | 244702 |
| Vorab online veröffentlicht am | 24.06.2026 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |