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Full-Scale Readout Electronics for the ECHo Experiment

Muscheid, Timo ORCID iD icon 1
1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsdatum 27.07.2023
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000194945
Veranstaltung 20th International Conference on Low Temperature Detectors (LTD20 2023), Daejeon, Südkorea, 23.07.2023 – 28.07.2023
Relationen in KITopen
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