Compact Functional Test Pattern Generation for DNNs Using Evolution Strategies
Gheshlaghi, Tara
1; Moussa, Dina A. 1; Hefenbrock, Michael 2; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Telematik (TM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Moussa, Dina A. 1; Hefenbrock, Michael 2; Tahoori, Mehdi B. 11 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Telematik (TM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) Institut für Telematik (TM) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3315-6338-7 ISSN: 2375-1053 KITopen-ID: 1000195151 |
| Erschienen in | 2026 IEEE 44th VLSI Test Symposium (VTS), Napa, CA, 27th-29th April 2026 |
| Veranstaltung | 44th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2026), Napa, CA, USA, 27.04.2026 – 29.04.2026 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–7 |
| Vorab online veröffentlicht am | 18.06.2026 |
| Externe Relationen | Siehe auch |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex |