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Investigations on the microstructural degradation and mechanical response of Ni–CGO anodes using phase-field method and stochastic modeling

Elmoghazy, Ahmed 1; Weber, Sabrina; Jeela, Ravi Kumar; Prahs, Andreas ORCID iD icon 1,2; Prifling, Benedikt; Schneider, Daniel ORCID iD icon 1,2; Schmidt, Volker; Nestler, Britta 1
1 Institut für Angewandte Materialien – Mikrostruktur-Modellierung und Simulation (IAM-MMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.matdes.2026.116665
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Angewandte Materialien – Mikrostruktur-Modellierung und Simulation (IAM-MMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 07.2026
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0264-1275
KITopen-ID: 1000195669
Erschienen in Materials & Design
Verlag Elsevier
Seiten Article no: 116665
Vorab online veröffentlicht am 25.07.2026
Nachgewiesen in OpenAlex
KIT – Die Universität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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