FAT-SNN: Fault-Aware Training of Flexible Analog Spiking Neural Networks Using Robust Surrogates
Schupp, Simon 1; Gheshlaghi, Tara
1; Pal, Priyanjana
1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Pal, Priyanjana
1; Tahoori, Mehdi B. 11 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3195-1764-7 ISSN: 1530-1877 KITopen-ID: 1000195726 |
| Erschienen in | 2026 IEEE European Test Symposium (ETS) |
| Veranstaltung | 31st IEEE European Test Symposium (ETS 2026), Chania, Griechenland, 25.05.2026 – 29.05.2026 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–6 |
| Serie | Conference |
| Vorab online veröffentlicht am | 10.07.2026 |
| Externe Relationen | Siehe auch |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Scopus |