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Towards Reliability and Quality for ReRAM-based Content-Addressable Memory in Computation-in-Memory Paradigms

Gamal Mohamed Hezayyin Seyam, Haneen 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000196305
Veröffentlicht am 21.08.2026
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 21.08.2026
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000196305
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang xiv, 147 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Technische Informatik (ITEC)
Prüfungsdatum 16.07.2026
Nachgewiesen in OpenAlex
Referent/Betreuer Tahoori, Mehdi B.
Anghel, Lorena
KIT – Die Universität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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