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Towards Reliability and Quality for ReRAM-based Content-Addressable Memory in Computation-in-Memory Paradigms

Gamal Mohamed Hezayyin Seyam, Haneen 1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000196305
Veröffentlicht am 21.08.2026
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 21.08.2026
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000196305
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang xiv, 147 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Technische Informatik (ITEC)
Prüfungsdatum 16.07.2026
Referent/Betreuer Tahoori, Mehdi B.
Anghel, Lorena
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