| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 07.2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3315-4685-4 KITopen-ID: 1000196610 |
| Erschienen in | 2026 IEEE 32nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) |
| Veranstaltung | 32nd IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2026), Polignano a Mare, Italien, 01.07.2026 – 03.07.2026 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–8 |
| Externe Relationen | Siehe auch |
| Schlagwörter | Compute-in-Memory(CiM), reliability, energy efficiency, analog compute, non-volatile memories |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex |