Stylometry in Literary Chinese. A systematic comparison of Burrows’ Delta parameter
Fedorova, Mara; Tögel, Philipp
1; Jha, Vandana
1; Elwert, Frederik; Gebhard, Henning; Tonne, Danah
1; Krech, Volkhard
1 Scientific Computing Center (SCC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Jha, Vandana
1; Elwert, Frederik; Gebhard, Henning; Tonne, Danah
1; Krech, Volkhard1 Scientific Computing Center (SCC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Scientific Computing Center (SCC) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000197141 |
| HGF-Programm | 46.21.02 (POF IV, LK 01) Cross-Domain ATMLs and Research Groups |
| Veranstaltung | 48. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Sprachwissenschaft (2026), Trier, Deutschland, 24.02.2026 – 27.02.2026 |
| Projektinformation | SFB 1475/1, 441126958 (DFG, DFG KOORD, SFB 1475/1 INF) |
| Bemerkung zur Veröffentlichung | Abstract-Band: 48. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Sprachwissenschaft (DGfS 2026) : Tracing Patterns – Sprachlichen Mustern auf der Spur. Ed.: V. Fabris |
| Externe Relationen | Abstract/Volltext |