Analysis of Sensing in OFDM-based ISAC under the Influence of Sampling Jitter
Giroto, Lucas 1; Camponogara, Andrei; Li, Yueheng
1; Chen, Jiayi 1; Sigg, Lukas; Zwick, Thomas 1; Nuss, Benjamin
1
1 Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Chen, Jiayi 1; Sigg, Lukas; Zwick, Thomas 1; Nuss, Benjamin
11 Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2169-3536 KITopen-ID: 1000197328 |
| Erschienen in | IEEE Access |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | XX |
| Seiten | 1 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |